測量次序

將直流電壓施加在試樣上,會改變其隨后測量的工頻 tan6的結(jié)果。

當(dāng)在同一試樣上相繼測量電容率、損耗因數(shù)和電阻率時,工頻下測量應(yīng)在對試樣施加直流電壓以前進行。工頻試驗后,應(yīng)將兩電極短路1min后再開始測量電阻率。

導(dǎo)致錯誤結(jié)果的因素

雖然只有嚴重污染才會影響電容率。但微量的污染卻能強烈地影響 tan 和電阻率。

不可靠的結(jié)果通常是由于不適當(dāng)?shù)娜踊蛱幚碓嚇铀斐傻奈廴尽⒂晌聪磧粼囼灣鼗蛭樟怂? 特別是存在不溶解的水份所引起。

在貯藏期間長久暴露在強光線下會導(dǎo)致電介質(zhì)劣化,采用所推薦液體樣品貯存和運輸以及試驗池的結(jié)構(gòu)和凈化的標準化程序,可使由污染引起的誤差減至*小